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Publications, published

P.O. Hahn, M. Henzler (1981): Influence of oxidation parameters on atomic roughness at the Si-SiO2 interface, J. Appl. Phys. v52 p4122-27 (1981)

PhD theses

Schulze, Günther (1981): Die Adsorption von Wasserstoff auf reinen Silizium-Spaltflächen , PhD thesis (University Hannover) (1981)

Diploma theses

Hasse, Wolfgang (1981): Untersuchungen zur Ethylenhydrierung an Nickel mit UHV -Methoden, Diploma thesis (University Hannover) unpublished (1981)

König, Wolfgang (1981): LEED-Untersuchungen von dunnen Palladiumfilmen auf Silizium, Diploma thesis (University Hannover) unpublished (1981)

Löbbecke, Hagen von (1981): Austrittsarbeitsuntersuchungen an der palladiumbedeckten Silizium(111)-Spaltfläche, Diploma thesis (University Hannover) unpublished (1981)

Scheithauer, Uwe (1981): Dynamische Messungen der Oberflächenphotospannung an reinen und wasserstoffbedeckten Silizium(111) - Spaltflächen, Diploma thesis (University Hannover) unpublished (1981)

Simm, Claus-Dieter (1981): Elektrische Eigenschaften der mit Palladium bedeckten Siliziumoberfläche, Diploma thesis (University Hannover) unpublished (1981)

Theile, Rudiger (1981): Oberflächenphotospannung an der Grenzfläche Silber - Silizium, Diploma thesis (University Hannover) unpublished (1981)

Miscellaneous Publications

P.O. Hahn, M. Henzler (1981): Influence of Oxidation Parameters on Atomic Roughness at the Si-SiO2 Interface in Isulating Films on Semiconductors, in M. Schulz, G. Pensl Insulating Films on Semiconductors Proceedings of the Second International Conference INFOS Springer-Verlag, Berlin, p.26-29 ISBN 3-540-11021-6 (1981)