ArbeitsgruppenAG Schmidt
Forschungsthemen

Aktuelle Forschungsthemen

DEFEKTE IN HALBLEITERN FÜR DIE PHOTOVOLTAIK

  • Lichtinduzierte Rekombinationszentren
  • Wechselwirkung von Verunreinigungen
  • Ortsaufgelöste Analyse von Rekombinations- und Trapping-Zentren

NEUE CHARAKTERISIERUNGSMETHODEN

  • Temperatur- und injektionsabhängige Ladungsträger-Lebensdauerspektroskopie
  • Ortsaufgelöste Messung von Ladungsträger-Lebensdauern, Trap-Dichten und Energieniveaus mittels kamerabasierter Methoden (IR, PL)
  • Zeit- und temperaturabhängige Messung von Ladungsträger-Lebensdauern und Solarzellenparametern zur Analyse der Kinetik von Defektreaktionen
  • Kombinierte Korona-Lebensdauer-Methode zur Grenzflächencharakterisierung

OBERFLÄCHENPASSIVIERUNG UND SELEKTIVE SCHICHTEN

  • Niedertemperatur-Oberflächenpassivierung (z.B. a-SiNx, a-Si, Al2O3, …)
  • Ladungsträgerselektive Schichten (PEDOT:PSS, TiOx…)
  • Analyse der fundamentalen physikalischen Passiviermechanismen
  • Charakterisierung von Grenzflächeneigenschaften (Zustandsdichte, Rekombination)
  • Theoretische Modellierung der Oberflächenrekombination

Die experimentellen Arbeiten der AG Schmidt finden größtenteils am Institut für Solarenergieforschung Hameln (ISFH) statt.